前幾日,華為在武漢召開了異常平板PC創(chuàng)新技術(shù)媒體溝通會(huì),會(huì)上華為展示了PC平板產(chǎn)品的成果,用技術(shù)上的創(chuàng)新走出了行業(yè)破局之路。華為的研發(fā)有目共睹,后期完善的可靠性測(cè)試更是錦上添花。華為的PC平板產(chǎn)品在進(jìn)入市場(chǎng)之前都會(huì)經(jīng)過各類測(cè)試,比如高溫高濕測(cè)試項(xiàng)目,在業(yè)界就屬于第一梯隊(duì),這使得華為的PC平板產(chǎn)品在可靠性方面有更強(qiáng)的說(shuō)服力。
一、環(huán)境可靠性試驗(yàn)對(duì)華為產(chǎn)品的作用
PC平板產(chǎn)品在使用過程中,環(huán)境條件的影響往往容易被忽視,然而它對(duì)其正常運(yùn)行和有效利用有著很大的影響。各種系列PC平板產(chǎn)品的技術(shù)設(shè)備和信息記錄,對(duì)環(huán)境條件的參數(shù)范圍都有技術(shù)規(guī)定,超過和達(dá)不到這個(gè)規(guī)定就會(huì)使得產(chǎn)品的可靠性降低,壽命縮短。而環(huán)境因素中,溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)重要因素。
華為研究所正是通過環(huán)境可靠性試驗(yàn),去反映華為的產(chǎn)品問題、功能設(shè)計(jì),甚至反向“改造”生產(chǎn)線,用高度精密的自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備替換掉傳統(tǒng)的人工質(zhì)檢,也賦予了華為筆記本電腦、平板電腦諸多友商難以企及的長(zhǎng)久耐用性、或是消費(fèi)者甚至想象不到的細(xì)節(jié)體驗(yàn)。
二、華為產(chǎn)品溫濕度試驗(yàn)的過程
高溫會(huì)使元器件和電路產(chǎn)生的熱量散不出去,從而加快材料老化,并在內(nèi)部引起暫時(shí)的或永久的微觀變化,低溫容易使得PC產(chǎn)品內(nèi)部金屬部件鈍化,軟磁盤變得脆弱;相對(duì)濕度過低,容易產(chǎn)生靜電,對(duì)PC產(chǎn)品造成干擾,濕度過高會(huì)使得內(nèi)部電阻增大,
廣告媒體。所以說(shuō)溫濕度對(duì)PC平板產(chǎn)品的影響不是那么一點(diǎn)點(diǎn),在出廠前的測(cè)試變得尤為重要,這里我們僅從溫濕度試驗(yàn)來(lái)看看華為產(chǎn)品具體是怎么做的。國(guó)內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)多禾,在汽車、電子元器件、軍工業(yè)等領(lǐng)域都有自己的優(yōu)勢(shì),技術(shù)人員二十年經(jīng)驗(yàn),性價(jià)比高。
1)將樣品放入試驗(yàn)箱,按照如下要求設(shè)定溫度程序
2)試驗(yàn)箱設(shè)置溫度為+25℃,相對(duì)濕度為95%
3)用3h時(shí)間,使得溫度上升到+55℃,相對(duì)濕度95%,并保持9h
4)用3h時(shí)間,使得溫度降低到+25℃,相抵濕度95%,并保持9h
5)以上為一個(gè)周期,重復(fù)4個(gè)循環(huán)
6)然后在溫度+25℃,相對(duì)濕度75%條件下保持2h
7)取出樣品,常溫下恢復(fù)2h,檢查外觀
三、環(huán)境可靠性試驗(yàn)讓華為技術(shù)成為破局之路
華為因?yàn)橹匾暭夹g(shù),才會(huì)更加重視華為平板電腦和PC設(shè)備的研發(fā)和測(cè)試。研發(fā)很好理解,但“測(cè)試”,常常被消費(fèi)者忽略,然而實(shí)際上,各種先進(jìn)的、行業(yè)首創(chuàng)的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法,才是華為真正厲害的地方,包括全頻段天線信號(hào)、砂礫適應(yīng)性、鹽霧侵蝕測(cè)試、高溫高濕、跌落測(cè)試等可靠性測(cè)試。